ASTM F 632-1990 高频条件下测量晶体管小信号共射极电流增益的试验方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-14 06:57:50 浏览:9604
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【英文标准名称】:TestMethodforMeasuringSmall-SignalCommonEmitterCurrentGainofTransistorsatHighFrequencies
【原文标准名称】:高频条件下测量晶体管小信号共射极电流增益的试验方法
【标准号】:ASTMF632-1990
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1990
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:放大;试验;发射极;电流;晶体管;信号;测量;频率;电子工程
【英文主题词】:transistors;frequencies;testing;electronicengineering;emitters;currents;signals;measurement;amplification
【摘要】:
【中国标准分类号】:L42
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:6P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:高频条件下测量晶体管小信号共射极电流增益的试验方法
【标准号】:ASTMF632-1990
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1990
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:放大;试验;发射极;电流;晶体管;信号;测量;频率;电子工程
【英文主题词】:transistors;frequencies;testing;electronicengineering;emitters;currents;signals;measurement;amplification
【摘要】:
【中国标准分类号】:L42
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:6P;A4
【正文语种】:英语
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